GLS通用器件老化测试系统
系统优势
▲每个系统更多DUT
更大的BIB- (670mmX440mm），单板共有276个金手指接触点，最大输入电流：55A;
★单板可测试75个元器件
★更多BIB-高达12
▲更多Socket(每个BIB最多75个)
▲功率更大650 W至1200 W每个BIB
▲更好的分庭
★更高的功耗-高达36 KW
★更好的气流和温度均匀性
★空气和水系统冷却选项
★系统占地面积小，无需侧面访问
▲更大的灵活性-更好的加载，更高的投资回报率
★最多可同时在同一个系统中运多个不同程序配置
★真引脚测试仪体系结构(定时、格式化、三态、电压)
★15 Mhz数据速率
★采用单独Socket或VTR技术的独立器件温度控制
★高达36KW的腔室功耗
★每个程序区1个BIB
★256个独立的I/O通道/BIB
| 系统参数/system parameter | |
| 规格名称 | 单柜老化系统 |
| 测试板数量 | 1-12 |
| 电网要求 | AC220V，10KW~15KW |
| 基本功能 | ●漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定 ●试验参数(IH、Im、ton/toff、times)设置 ●参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj)上限设定 ●实时监测显示老化参数（ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj、Times)及循环次数 ●绘制VCE变化曲线,并判断变化率 ·测试结壳热阻Rjc绘制变化曲线，并判断 变化率 ●老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线 |
| 上位机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标 |
| 软件 | ●支持本地数据和数据上传，支持MES对接。 ●支持在线编辑测试程序。 ●支持软件三级权限管理和多账号管理。 |
| 规格尺寸 | 750X900X850 |
| 重量 | 约500Kg |
